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PLD-MPCS2.0-电子半导体污染度分析系统 粒子计数简单介绍: 电子半导体污染度分析系统 粒子计数,是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;2222222020/7/4